Technische Universiteit Delft

IC
31 augustus 2006 door M&C

Promotie van ir. E. Schrik: "A combined BEM/FEM method for IC substrate modeling"

11 september 2006 | 10:00 uur
plaats: Aula TU Delft

Ir. E. Schrik | elektrotechnisch ingenieur
promotor | Prof.dr.ir. P.M. Dewilde (EWI)
toeg.prom | Dr.ir. N.P. van der Meijs (UHD-EWI)

A combined BEM/FEM method for IC substrate modeling Het onderzoek beschreven in dit proefschrift werd gedaan in de context van het modelleren van parasitaire fysische effecten, zoals veldkoppelingen en overspraak, die een nadelig effect kunnen hebben op de functionele prestaties van geïntegreerde schakelingen (ICs). Het modelleren van parasitaire effecten, via simulaties met de resulterende modellen, geven inzicht in de prestaties van het IC, voorafgaand aan de daadwerkelijke fabricage ervan. Dit proefschrift heeft specifiek studie verricht naar het modelleren van het IC-substraat als een medium voor overspraak tussen actieve devices. Het substraat kan worden gemodelleerd met technieken zoals de eindige elementen methode (FEM) en de randelementen methode (BEM), met elk zijn eigen eigenschappen. De FEM is nauwkeurig en flexibel, maar typisch langzaam, terwijl de BEM typisch sneller is, maar minder flexibel en alleen nauwkeurig in meer beperkte situaties. Bij toepassing op moderne substraattechnologieën worden de snelheidsbeperkingen in de FEM en de nauwkeurigheidsbeperkingen in de BEM echter typisch benadrukt.

In deze context stelt dit proefschrift een gecombineerde BEM/FEM methode voor, waar het substraatmodelleringsprobleem consistent wordt gepartitioneerd in een BEM- en een FEM-deel, zodanig dat de structuur van het modelleringsprobleem zelf en de eigenschappen van de BEM en de FEM worden geëxploiteerd. In het bijzonder worden de globale parasitaire koppelingen gevangen met een grove en ijle (en dus snelle) BEM, terwijl locale koppelingen worden gevangen met een gereduceerde-orde FEM die equipotentiale knooppunten contraheert. Het resultaat is een ijle, gereduceerde-orde BEM/FEM methode die opereert in een nieuwe wisselwerking tussen de snelheid van de BEM en de nauwkeurigheid van de FEM.

Meer informatie?
Voor inzage in proefschriften van de promovendi kunt kijken in de TU Delft Repository op: repository.tudelft.nl. TU Delft Repository is de digitale vindplaats van openbare publicaties van de TU Delft. Proefschriften zullen binnen een paar weken na de desbetreffende promotie in de Repository te vinden zijn.