Ingezonden persbericht

PERSBERICHT

Ernst Ruska Center en FEI samen in Partnership Programma
Het project van het centrum met FEI zal subatomische resolutie elektronen microscopie, om atomen en hun verbindingen te onderzoeken, verder verbeteren

Hillsboro, 4 augustus 2004 -- FEI Company (NASDAQ: FEIC), wereldmarktleider op het gebied van elektronenmicroscopen voor nanotechnologie, gaat samen met het Duitse toonaangevende nationale centrum voor microscopie en spectroscopie - het Ernst Ruska Center- werken aan de toekomst van analytische microscopie. Het Ernst Ruska Center heeft inmiddels een 300kV Scanning/transmission electron microscope (S/TEM) gekocht. De microscoop beschikt over geïntegreerde middelen voor weergave en chemische analyse van materialen met resoluties die 1-Angstrom grens overschrijden. Eén Angstrom is een tiende van een nanometer en dat staat ongeveer gelijk aan éénderde van de grootte van een koolstofatoom. De extreme vergroting is van groot belang voor onderzoek op atomisch niveau.

Het ultrahoge resolutie S/TEM systeem en de speciaal ontwikkelde applicaties zullen deuren openen voor wetenschappers die onderzoek verrichten naar morfologie, kristallografie, elementaire en chemische compositie alsmede elektronische structuur op resolutieniveaus die nog niet eerder zijn bereikt met behulp van één geavanceerd instrument. Met de mogelijkheid om tussen atomen te kijken, zijn wetenschappers nu in staat om de chemische samenstelling van atomen te onderzoeken. Grote vraag hierbij is: wat houdt de atomen bij elkaar? De geavanceerde S/TEM is voorzien van een door FEI zelf ontwikkeld platform voor verbeterde microscopie en geavanceerde optische middelen. Het ontwerp voldoet aan de strikte eisen op het gebied van extreme stabiliteit om resoluties mogelijk te maken die ruim onder de grens van één Angstrom vallen. De microscoop werkt tot 300kV voor maximale helderheid en de allerhoogst mogelijke resolutie.

"Het is onze missie om Duitse gebruikers te voorzien van de allernieuwste apparatuur op het gebied van elektronen microscopie en spectroscopie tot op atomisch niveau. Dit vakgebied behoort als gevolg van de aberration-corrector technologie, tot één van de meest innovatieve vormen van analytische instrumentatie," zegt Professor Dr. Knut Urban, president van de German Physical Society en mededirecteur van het onlangs opgerichte Ernst Ruska Center. "FEI heeft bewezen dat het een internationale speler is die een sleutelrol vervult in dit vakgebied. Het samenwerkingsverband met FEI stelt ons in staat om voorop te lopen op het gebied van instrumentele ontwikkeling."

Professor Dr. Joachim Mayer, mededirecteur van het Ernst Ruska Center voegt hier aan toe: "Elektronen microscopie betekent een grote stap in de richting van een experimentele techniek waarbij de informatie van objecten op atoomniveau niet langer wordt beperkt door de optische kwaliteiten van het instrument. Fysici and materiële wetenschappers kijken er naar uit om hoge precisie metingen met betrekking tot eigenschappen van atomische structuren uit te voeren. Deze functionaliteit is van groot belang in de nano-wetenschap. FEI's technologie zorgt ervoor dat de wetenschappers van het Ernst Ruska Center deze fascinerende mogelijkheden optimaal kunnen benutten."

"We zijn trots dat we zijn geselecteerd door het Duitse toonaangevende centrum voor ultra hoge resolutie analytische microscopie", zegt Vahe' Sarkissian, FEI's bestuursvoorzitter, president en chief executive officer. "FEI is - en blijft - wereldwijd toonaangevend op het gebied van high resolution imaging en analyse. Bovendien zijn we een belangrijke speler in de wereldwijde markt voor nanotechnologie applicaties. In vrijwel elke markt die wij bedienen, leveren wij de gereedschappen die nodig zijn voor onderzoek en het ontwikkelen van nieuwe nano(schaal) producten en apparaten. We zijn ervan overtuigd dat deze samenwerking resulteert in grote doorbraken op het gebied van geavanceerde microscopie."
In maart kondigde FEI als eerste de sub-Angstrom resolutie techniek aan met een 200 kV TEM. Als gevolg van de wetenschappelijke vraag naar aberration corrected TEM/STEM applicaties, heeft FEI een geavanceerd TEM/STEM 300 kV systeem ontwikkeld waarmee sub-angstrom resoluties mogelijk worden zonder correctoren of een monochromator. Dit nieuwe systeem zal ook verkrijgbaar zijn met aberration correctoren en een monochromator. De toevoeging van deze technologieën binnen een geavanceerd platform brengt nano-wetenschap op het niveau van routine sub-angstrom onderzoek en geeft onderzoekers en fabrikanten betere toegang tot sub-nanoschaal.

Over FEI Company
FEI's Tools for Nanotech, omvatten ionen- en elektronen-beam technologieën, 3D- karakterisatie, analyse en modificatie tot op sub- Ångstrom niveau. Met R&D-centra in Noord-Amerika en Europa en een sales- en service-organisatie in meer dan 40 landen wereldwijd, brengt FEI de nanodimensie binnen het bereik van toonaangevende onderzoekers en fabrikanten. Meer informatie over FEI kunt u vinden op: www.feicompany.com
Over Ernst Ruska Center (ER-C)
Het ER-C voor elektronen- microscopie en -spectroscopie is een samenwerking tussen onderzoekscentrum Juelich en de technische universiteit van Aken onder auspiciën van de German Science Foundation. Het ER-C staat onder de gezamenlijke leiding van professoren Knut Urban en Joachim Mayer. Verspreidt over twee locaties (Juelich en Aken) beschikt het centrum over het grootste personeelsbestand en meeste instrumentarium op het gebied van elektronen microscopie in Duitsland. Het centrum biedt Duitse universiteiten, onderzoekslaboratoria en de industrie de geavanceerdste hoge resolutie- en analytische elektronen microscopie dankzij het gebruik van monochromators, analytische energie filters en aberration corrector elementen. De belangrijkste werkgebieden van het centrum zijn de analyse op nano-nivo van keramieken, metalen, halfgeleiders en oxide superconductors. Bezoek voor meer informatie de website: www.er-c.org.

Contact: 
Cathy van Mastrigt              Serge van Rooij
Marketing Communications            Bex*van der Schans
FEI Company, Europe             + 31 40 294.5252
+31 40 276.6225             svrooij@bvdspr.nl
cathy.van.mastrigt@nl.feico.com

---- --