Meting van materiaalhechting leidt tot duurzamere displays
23 februari 2007
De Eindhovense STW-onderzoeker Olavio Dos Santos Ferreira heeft een
methode ontwikkeld om de hechting van metaalfilms op anorganische
materialen te meten. Metaalfilms verzorgen de stroomvoorziening en
aansturing van displays, zoals van laptops of zonnecellen. Na verloop
van tijd laten dergelijke films los van het glas of ander anorganisch
materiaal waarop ze gehecht zijn. Het hoe, wanneer en waarom was
eerder niet goed meetbaar en voorspelbaar. Dos Santos Ferreira
promoveert 21 maart aan de Technische Universiteit Eindhoven.
Het doel van dit project was het betrouwbaar kunnen meten van hechting
van nikkelfilms op anorganische materialen. Nikkelfilms gehecht op
glas worden toegepast in een breed scala aan displays van handhelds,
organizers, mobieltjes, laptops en zelfs zonnecellen.
Levensduur
De onzekere levensduur van deze displays is een probleem. De films
laten los onder invloed van (atmosferisch) vocht. Dat is slecht te
meten, terwijl dat juist nodig is om de levensduur van displays vast
te stellen. De onderzoeker maakte een model dat de invloed van vocht
op de hechting beschrijft.
Bij het loslaten van de film blijken meer factoren mee te spelen dan
alleen vocht. Dos Santos Ferreira analyseerde deze factoren voor een
beter begrip van de hechting. Dit proces is onderzocht met een
zogenoemde `peel-test', waarbij de film onder gecontroleerde
omstandigheden wordt losgetrokken van de ondergrond waarop het
aangehecht is.
Loslaattest
Dos Santos Ferreira verbeterde de peel-test, waardoor er drie
voordelen ontstonden: het loslaatproces kan beter gecontroleerd
worden, de profielen van de films en de manier waarop de film loskomt
zijn goed te zien en er kan met relatief kleine monsters gewerkt
worden. Daardoor kan met dit instrument zuiverder gemeten worden dan
voorheen. Bedrijven die aan het onderzoek bijdragen, hebben
belangstelling voor het ontwerp en denken aan vermarkting. Ze houden
de vinger aan de pols in het vervolgonderzoek om het instrument te
verfijnen. Op termijn leiden de resultaten van dit onderzoek tot
duurzamere displays.
Technologiestichting STW ontvangt een deel van haar financiering van
de Nederlandse Organisatie van Wetenschappelijk Onderzoek (NWO).
..............................
Meer informatie:
* ir. Olavio Dos Santos Ferreira (Technische Universiteit Eindhoven)
* t.: +31(0)40 247 4131, o.ferreira@tue.nl
* promotie: 21 maart
* promotor: prof. dr. G. de With
Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek